-65度三箱沖擊試驗箱，三箱法高低溫沖擊箱 1.GJB 150.5A-2009溫度沖擊試驗 2.GJB 360B-2009溫度沖擊試驗 3.GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法溫度變化試驗導則 4.GB/T 2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度沖擊試驗

兩箱高低溫沖擊試驗箱，高 低溫提籃沖擊箱主要為航天、航空、石油、化工、軍事、汽車（摩托車）、船舶、電子、通訊等科研及生產單位提供溫濕度變化環境，模擬試品在溫度變化環境條件對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗、產品篩選等。

三箱高低溫沖擊箱，冷熱沖擊試驗箱適用于考核產品（整機）、元器件、零部件等經受溫度急劇變化的能力，該溫度沖擊試驗能夠了解試驗樣品一次或連續多次因溫度變化而帶來的影響。

熱流儀、冷熱循環沖擊測試機適用于各類半導體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB 電路板IC、光通訊（如收發器 transceiver 高低溫測試、SFP 光模塊高低溫測試等）、電子行業等進行IC 特性分析、高低溫循環測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗。